Транзистор тестер обнаружения IC метр диод серии 74/54, AD/DA 4000/4500+ программное обеспечение

Описание

1 микросхема тестер

1,1 введение

В экспериментальной части школьного обучения использование интегрированного чипа требует много некоторых основных функций. Например, серия gate 74/54, усилители чипов AD/DA, компараторы, транзисторы, оптопары и т. Д.

Когда ученики начинают осваивать цепь, использование процесса, есть много случайных тупых ошибок, приводящих к повреждению чипа, чтобы вызвать много проблем позже в эксперименте, таким образом, в эксперименте, чтобы избежать таких факторов, экономит время обучения, Необходимо использовать специальный инструмент для тестирования микросхем. Кроме того, этот чип-тестер поддерживает функцию автоматического поиска, поиск чипа будет автоматически отображаться после удачной модели.

Конечно,В другихСлучая, выМожет также использовать тестер для проверкиВIC гOodИли плохой.

1,2 Особенности

1 на основе стандартного интерфейса USB, подключи и работай;

2 стандартных 40-контактных гнезда, самый большой размер 40Pin-кодВ IC;

3 системы с функцией самопроверки, модель чипа может автоматически определить;

4 может проверить чипы серии 74/54 ttl, чип серии 4000/4500;

5 МожетТестовые усилители, компараторы, транзисторы, интегральные схемы, такие как чип с оптопарой;

6 может использоваться для тестирования AD, DA чипа;

7 поддержка драйвера win2000/winxp/win2003/win7;

8 тестеров аппаратного и программного обеспечения независимый дизайн, чип библиотеки онлайн в режиме реального времени обновления, простой в использовании;

9 в соответствии с предоставленными пользователем чипами для тестирования (будет настроен).

1,3 Инструкция по применению

1. Сначала установите программное обеспечение, установка завершена, вставьте чип-тестер, система автоматически подсказка установить драйвер устройства, следуйте инструкциям, используя автоматическую установку.

(Примечание: При установкеПрограммное обеспечениеЗакрытьАнтивирусное программное обеспечение)

2. Запуск программного обеспечения для тестера чипов.

Процедура испытания выглядит следующим образом:

(1) в раскрывающемся списке выберите тип внутри чипа выберите категория

(2) выберите подходящую категория, в каком определенном устройстве выберите конкретную модель чипа.

(3)Вставка чипа-DIP инкапсуляция

Вставьте чип с выемкой вверх, выравнивая нижнюю линию с нижней

Линия розетки. На диаграмме ниже показан процесс вставки 28-Pin-код

Чип.

Чип вставки-Нет-DIP инкапсуляции

Гнезда адаптеры доступны для других инкапсуляций, включая PLCC, QFP, и

SOIC. См. Информацию о адаптере на экране информации об устройстве. В

Вставка повторяет положение Штифта 1. Чтобы определить штифт 1 чипа, найдите твердый квадрат или точку на чипе, которая дает информацию о чипе. Это также означает первый контакт чипа.

(3) Выберите чип, нажмите на кнопку «Тест», затем индикатор готов протестировать светильник. Программное обеспечение автоматически тестирует указанный чип-хороший или плохой.

(4) Если чип неразборчив, и не может знать конкретную модель чипа, вы можете выбрать кнопку "Автоматическое сканирование теста", программное обеспечение будет автоматически переноситься в медиатеку из микросхемы внутри, если соответствие по определённым моделям, Чип автоматически подает модель.

Примечание: Автоматическое сканирование тест ing, это устройство, которое сканирует текущую категория, если другие типы сканирования, проверьте другие категории, затем нажмите на кнопку автоматического сканирования тест."

(5)ВПрограммное обеспечение покажет результат теста, пройденного илиОтказ, еслиПройденный результат покажетПодробная информацияСерия HC или LS.Для, Например,Результат покажет информацию о состоянииВставленыЧип 74HC00 или 74LS00.